9J-光切法顯微鏡-上海思長約光學儀器

SYNTHETIC

綜合儀器

光切法顯微鏡

首頁 > 產品中心 > 綜合儀器 > 光切法顯微鏡 > 正文

9J-光切法顯微鏡-上海思長約光學儀器

2020-03-11

9J-光切法顯微鏡-上海思長約光學儀器

1、儀器的主要用途

光切法顯微鏡以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。其能判別國家標準GB1031-68所規定▽3-▽9級表面光潔度（表面粗糙度）對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。光切法特點是在不破壞表面的關況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。

2、儀器技術參數：

測量范圍不平度平均高度值（微米）	表面光潔度級別	所需物鏡	總放大倍數	物鏡組件工作距離（毫米）	視場 (毫米)
＞0.8～1.6 ＞1.6～6.3 ＞6.3～20 ＞20～80	9 8～7 6～5 4～3	60倍N.A.0.55 30倍N.A.0.40 14倍N.A.0.20 7倍N.A.0.12	510倍 260倍 120倍 60倍	0.04 0.2 2.5 9.5	0.3 0.6 1.3 2.5

3、儀器成套性
1、儀器主體 1臺
2、測微目鏡 1件
3、座標工作臺 1件
4、V型塊 1件
5、標準尺 1件
6、7X物鏡 1只
7、14X物鏡 1只
8、30X物鏡 1只
9、60X物鏡 1只
10、可調變壓器 1臺
11、2.1W/6V燈泡 3個

1、儀器的主要用途
光切法顯微鏡以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。其能判別國家標準GB1031-68所規定▽3-▽9級表面光潔度（表面粗糙度）對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。光切法特點是在不破壞表面的關況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。